HALT(High Accelerated Life Testing)/HASS(High Accelerated Stress Screen)是ESS 發展的一個重要方向，目的是通過增加應力水平，在最短的時間內尋找產品缺陷，并采取糾正措施以提高產品的可靠性。

HALT概述

HALT不是Pass/Fail測試. HALT是一種發現缺陷的工序,它通過設置逐級遞增的加嚴的環境應力，來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點，而后對暴露的缺陷和故障從設計、 工藝和用料等諸方面進行分析和改進，從而達到提升可靠性的目的，最大的特點是設置高于樣品 設計運行限的環境應力，從而使暴露故障的時間大大短于正?？煽啃詰l件下的所需時間。

HASS概述

HASS是產品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產線上做高加速應力篩選。要求100%的產品參加篩選。其目的是為了 使得生產的產品不存在任何隱含的缺陷或者至少在產品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷，HASS就是通過加速應力方式以期在短時間內找到有缺陷的產品,縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產品。

簡單地講：在產品的研制階段和生產階段應用HALT/HASS，可顯著縮短產品的研制周期，提高產品可靠性和健壯性，增強產品市場競爭力。在研制階段進行的HALT，是發現設計薄弱環節、確定產品極限應力的有效手段，為生產階段進行HASS 打下基礎，保障保證產品在高應力下的篩選不致造成永久性損傷。HALT 可以采用單應力，也可采用綜合應力，應力類型一般為溫度循環、隨機振動和溫度，與傳統ESS 相比，溫度范圍更寬，溫變率更高、隨機振動量級更高，也可以先進行單項應力的HALT，再進行綜合溫度循環和振動應力的HALT，如果試驗中發現的產品缺陷都得到改正，產品的設計就可達到非常可靠的程度。在生產階段進行的HASS，可以是單項應力或綜合應力，應力水平主要根據HALT 的極限應力結果確定，在保證不消耗過多壽命的前提下，在短時間內盡量剔除由工藝、元器件引起的缺陷，消除早期缺陷。

設計HALT和HASS的目的是提高產品的可靠性，而不是衡量產品可靠性的水平。與只是衡量產品可靠性水平而完全不能提高產品可靠性的可靠性驗證和平均失效時間相比，這種方法更積極，這也是HALT和傳統方法最主要的區別。