耐候性試驗(yàn)
Weathering Testing
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IEC 61646-2008
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IEC 61646-2008標(biāo)準(zhǔn)介紹
Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules一Design qualification and type approval 地面用薄膜光伏組件設(shè)計(jì)鑒定和定型
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了地面用薄膜光伏組件設(shè)計(jì)鑒定和定型的要求，目的是在盡可能合理的經(jīng)費(fèi)和時(shí)間內(nèi)確定組件的電性能和熱性能，表明組件能夠在規(guī)定的氣候條件下長(zhǎng)期使用，通過此試驗(yàn)的組件的實(shí)際使用壽命期望值將取決于組件的設(shè)計(jì)以及它們使用的環(huán)境和條件。
溫馨提醒：本IEC 61646-2008可能存在更新的版本，建議尋找IEC 61646-2008的發(fā)行商確認(rèn)。
符合 IEC 61646-2008 標(biāo)準(zhǔn)的
老化試驗(yàn)箱
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紫外線老化箱
QUV是美國Q-lab公司的注冊(cè)商標(biāo)，也是Q-lab公司紫外加速老化設(shè)備的統(tǒng)稱,包含QUV/basic、QUV/se、QUV/spary、QUV/cw四個(gè)不同型號(hào)的產(chǎn)品。
QUV 馬上詢價(jià)
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